HOME / PUBLICATIONS /

Publications

2011
Hadjira A, Leila H, Mohamed A, Cherif AM. Dosage de métabolites secondaires d'extraits du fruit Crataegus azarolus L. TJMPNPTJMPNP. 2011;6 :53-62.
Hadjira A, Leila H, Mohamed A, Cherif AM. Dosage de métabolites secondaires d'extraits du fruit Crataegus azarolus L. TJMPNPTJMPNP. 2011;6 :53-62.
Hadjira A, Leila H, Mohamed A, Cherif AM. Dosage de métabolites secondaires d'extraits du fruit Crataegus azarolus L. TJMPNPTJMPNP. 2011;6 :53-62.
Hadjira A, Leila H, Mohamed A, Cherif AM. Dosage de métabolites secondaires d'extraits du fruit Crataegus azarolus L. TJMPNPTJMPNP. 2011;6 :53-62.
Hambaba L, Boudjellal K, Aberkane MC, Abdeddaim M, Messaadia N. The dosage of polyphenols in Elaeagnus angustifolia L. fruit extracts. 2011.
Hambaba L, Boudjellal K, Aberkane MC, Abdeddaim M, Messaadia N. The dosage of polyphenols in Elaeagnus angustifolia L. fruit extracts. 2011.
Hambaba L, Boudjellal K, Aberkane MC, Abdeddaim M, Messaadia N. The dosage of polyphenols in Elaeagnus angustifolia L. fruit extracts. 2011.
Hambaba L, Boudjellal K, Aberkane MC, Abdeddaim M, Messaadia N. The dosage of polyphenols in Elaeagnus angustifolia L. fruit extracts. 2011.
Hambaba L, Boudjellal K, Aberkane MC, Abdeddaim M, Messaadia N. The dosage of polyphenols in Elaeagnus angustifolia L. fruit extracts. 2011.
DJEFFAL F, Bentrcia T, Abdi MA, Bendib T. Drain current model for undoped Gate Stack Double Gate (GSDG) MOSFETs including the hot-carrier degradation effects. Microelectronics ReliabilityMicroelectronics Reliability. 2011;51 :550-555.
DJEFFAL F, Bentrcia T, Abdi MA, Bendib T. Drain current model for undoped Gate Stack Double Gate (GSDG) MOSFETs including the hot-carrier degradation effects. Microelectronics ReliabilityMicroelectronics Reliability. 2011;51 :550-555.
DJEFFAL F, Bentrcia T, Abdi MA, Bendib T. Drain current model for undoped Gate Stack Double Gate (GSDG) MOSFETs including the hot-carrier degradation effects. Microelectronics ReliabilityMicroelectronics Reliability. 2011;51 :550-555.
DJEFFAL F, Bentrcia T, Abdi MA, Bendib T. Drain current model for undoped Gate Stack Double Gate (GSDG) MOSFETs including the hot-carrier degradation effects. Microelectronics ReliabilityMicroelectronics Reliability. 2011;51 :550-555.
Abid M, Hammani M, Kisma S, Hocine O, Raissi N, Nejjari S, Gourari A, Hammani A. Drainage biliaire préopératoire avant duodéno-pancréatectomie céphalique. Algérie; 2011.
Abid M, Hammani M, Kisma S, Hocine O, Raissi N, Nejjari S, Gourari A, Hammani A. Drainage biliaire préopératoire avant duodéno-pancréatectomie céphalique. Algérie; 2011.
Abid M, Hammani M, Kisma S, Hocine O, Raissi N, Nejjari S, Gourari A, Hammani A. Drainage biliaire préopératoire avant duodéno-pancréatectomie céphalique. Algérie; 2011.
Abid M, Hammani M, Kisma S, Hocine O, Raissi N, Nejjari S, Gourari A, Hammani A. Drainage biliaire préopératoire avant duodéno-pancréatectomie céphalique. Algérie; 2011.
Abid M, Hammani M, Kisma S, Hocine O, Raissi N, Nejjari S, Gourari A, Hammani A. Drainage biliaire préopératoire avant duodéno-pancréatectomie céphalique. Algérie; 2011.
Abid M, Hammani M, Kisma S, Hocine O, Raissi N, Nejjari S, Gourari A, Hammani A. Drainage biliaire préopératoire avant duodéno-pancréatectomie céphalique. Algérie; 2011.
Abid M, Hammani M, Kisma S, Hocine O, Raissi N, Nejjari S, Gourari A, Hammani A. Drainage biliaire préopératoire avant duodéno-pancréatectomie céphalique. Algérie; 2011.

Pages