Fiches des équipements scientifiques
Diffractomètre à RX (DRX)
Type :Equinox 3000
Description : Analyse de structures (poudres et couches minces) Vnom=50 kV Inom= 40 mA Tube : Anode en cuivre, =1.54 Å
Spectromètre de Photoluminescence
Type :Fluorolog 3
Description : Caractérisation optique des semi-conducteurs Spectre excitation :
200 – 950 nm
Spectre émission :
200– 850 nm
Microscope Electronique à Balayage (MEB)
Type :ProX
Description : Cartographie et analyse EDX des matériaux Tension d’accélération :
5, 10, 15 kV
Plage de grossissement :
80 – 130 000x
Système de caractérisation électrique des semi-conducteurs
Type:4200-SCS
Description : Mesure I-V et C-V des dispositifs semi-conducteurs Gamme haute puissance : V=21- 210 V, Gamme puissance moyenne :
V=21- 210 V,
Système de mesure par effet Hall
Type :AMP55
Description : Caractérisation électrique des semi-conducteurs Gamme courant: 1nA - 20 mA Tension maximale mesurée par l'appareil: 10 V
Banc optique
Marque :Filmetrics
Description : Mesure de la réflectance, la transmittance et l'absorbance Gamme spectrale :
190-1100 nm
Pile à combustible
Marque : Heliocentrics Type :NEXA
Description : Caractérisation des piles à combustible Puissance :
1200 W
Four tubulaire
Marque : CarboliteType : MTF/10/23/130
Description : Four recuit des matériaux
Tmax : 1000 °C